Zeta potential analyzer

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ELSZ-2000Z

ELSZ-2000Z는 고체 샘플의 표면 전위 및 고염농도 샘플의 측정이 가능 한 장비입니다. 전기 침투 측정법을 통해 고체 샘플 및 극소량의 (130μl 이상) 샘플도 제타 전위를 정밀하게 분석합니다. 

단일 장치로 입자 크기를 추가로 확인하고 싶다면, ELSZ-2000ZS 모델을 참고해주세요.

 제품 특성  (*새로 추가된 기능)
  • * 새로운 APD로 감도는 더 높아지고 측정시간은 더 짧아졌습니다.
  • * 자동 온도 구배 기능으로 융점 및 상 전이점 분석이 가능합니다.
  • * 0 ~ 90℃의 넓은 온도 범위를 가집니다.
  • 농축 샘플 측정이 가능합니다.
  • 전기 침투류 측정 및 플롯 분석을 통한 고정밀 제타 전위 분석이 가능합니다.
  • 고염농도 샘플의 제타 전위 측정이 가능합니다.
  • * 더 작은 면적의 샘플의 표면 제타 전위 측정이 가능합니다.
 제품 사양  
Measurement principle
electrophoretic light scattering method (laser doppler method)
Optical systemheterodyne optical system
Light sourcehigh power semiconductor laser
Detectorhigh sensitivity APD
Cell
standard cell, small amount of disposable cell or concentrated cell
Temperature0 to 90℃ (with gradient function)
Power supply100V, 250VA 
Size and weight380(W) x 600(D) x 210(H)mm, approx. 22kg
 측정 

측정 항목

Mobility-20x10^-4 ~ 20x10^-4cm²/V·s
Zeta potentialno limitation



측정 범위

Temperature0 ~ 90℃
Concentration

zeta potential: 0.001% ~ 40%

 응용 분야 

계면 화학, 무기, 반도체, 폴리머, 생명 공학, 제약 및 의료 분야의 입자 특성 분석에 대한 기초 및 응용 연구뿐만 아니라 필름 및 평평한 고체 샘플의 표면 연구에 적합합니다.


  • 새로운 기능성 소재
    - 연료 전지 (탄소 나노 튜브, 풀러렌, 기능 필름, 촉매, 나노 메탈)
    - 바이오 나노 테크놀로지 (나노 캡슐, 덴드리머, DDS), 나노 버블


  • 세라믹 및 페인트
    - 세라믹 (실리카, 알루미나, TiO2)
    - 무기 졸의 표면 개질제, 분산 및 응집
    - 카본 블랙 및 유기 안료의 분산 및 응집
    - 슬러리 샘플
    - 컬러 필터
    - 흡착 연구


  • 반도체
    - 실리콘 웨이퍼의 표면 특성 연구
    - 웨이퍼 표면의 연마제/첨가제 상호 작용 연구
    - CMP 슬러리


  • 폴리머 및 화학물질
    - 에멀젼 분산 및 응집
    - 라텍스의 표면 개질제
    - 고분자 전해질의 기능 연구
    - 제지 및 펄프 첨가제 연구의 공정 제어


  • 제약 및 식품
    - 에멀젼 분산 및 응집
    - 리포좀 및 소포의 분산/결합 제어
    - 계면 활성제의 기능 (Micelle)