Retardation film and material evaluation system

Retardation film and material evaluation system

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RETS 100

RETS100은 광학 필름의 편광특성에 대한 정확하고 다양한 측정결과를 제공합니다. (예: 위상차의 파장 분산도, 배향각, 광축 등) 비파괴 및 비접촉 검사를 통해 모든 종류의 단일 또는 다층 필름의 특성을 안전하고 정확하게 측정하는것이 가능하며, 고객의 용도에 최적화된 결과값을 제시합니다.

 제품 특성  (*옵션사양)
  • MCPD를 검출기로하여 지정된 파장에서 정확한 위상차를 측정합니다.

  • * 기울임/회전 스테이지를 이용한 Rth 파라미터를 분석합니다.

  • 고객사의 요구에 맞춰 샘플 스테이지의 사양 변경이 가능합니다.

  • 0.1nm 이상의 미세 위상차를 정밀하게 측정할 수 있습니다.

  • 비파괴 검사로 다층 시료에 대한 각 층의 위상차와 축을 측정할 수 있습니다.

         


 제품 사양 
Rotation measuring rangerotating analyzer method: approx. 0nm ~ tens of μm
light interference method: approx. 450nm ~ several μm
Retardation repeatability*3σ ≤ 0.08nm
Sample stageX-Y stagesample size: min. 20 x 20mm / max. 100 x 100mm
thickness: 2.5mm or less
tilt/rotation stagesample size: min. 25 x 25mm / max. 100 x 100mm
tilt angle: ± 50° / rotation angle: ± 180°
Detectorarray spectrometer: 512ch photodiode array
wavelength range: 400nm ~ 800nm
accuracy: ± 0.5nm
Polarizing optionmeasurement
spot diameter
φ 1mm, φ 2mm, φ 5mm, φ 10mm(aperture switch)
polarizing unit for
transmission
collimating optics

Glan-Thompson prism extinction ratio 10^-5

automatic rotation(angle accuracy 0.1°)

automatic loading/unloading

2 units for polarizer and analyzer

Fiber

receiving fiber(quartz) / emitting fiber(quartz)

Light source100W halogen lamp
Data processorPC, monitor
Size and weight540(W) × 580(D) × 1000(H)mm, approx. 60kg
Power supplyAC 100V ± 10V, 1.5kVA

*위상차 샘플(위상차 약 600nm 샘플, λ 550nm에서) 

 측정 
측정 항목 (*옵션사양)
  • Retardation

  • Wavelength dispersion of retardation

  • Sample tilting angle

  • Azimuth, ellipticity

  • Polarization measurement

  • Spectroscopic measurement

  • Chromaticity measurement

  • Nx, Ny, Nz, Rth

  • *Haze

  • *Optical elasticity

 응용 분야 
  • 광학 필름, 위상차 필름, 타원 편광 필름, 위상차 판, 편광 필름, 기능성 편광 필름, 편광판

  • LC 재료 및 LC 셀의 편광 측정, 편광용 광학 부품(TN, STN, IPS, VA, OCB)